Артикул:
SMZ445
Стереомикроскоп Nikon SMZ-445
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений. Большое рабочее расстояние обеспечивает надежную фокусировку даже при неровных поверхностях образца, позволяя использовать пинцеты, приборы для рассечения образцов или пипетки для манипуляций с образцами.
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений. Большое рабочее расстояние обеспечивает надежную фокусировку даже при неровных поверхностях образца, позволяя использовать пинцеты, приборы для рассечения образцов или пипетки для манипуляций с образцами.
|
Кратность трансфокатора
|
4.4:1 |
|
Рабочее расстояние (мм)
|
100 |
|
Угол поля зрения (град.)
|
45 |
|
Регулируемое межзрачковое расстояние (мм)
|
54 - 76 |
|
Материал оптики
|
Оптическое стекло |
|
Увеличение объектива
|
4x - 70x |
|
Непрерывное увеличение
|
Нет |
|
Окуляры
|
10x, 15x, 20x |
|
Поле зрения при минимальном увеличении (мм)
|
21 |
